晶型专利侵权的判定原则是什么?
晶型专利侵权判定的核心是判断被诉产品是否落入权利要求保护范围,遵循“全面覆盖原则”,以权利要求记载的全部技术特征为比对基准。 晶型比对以X射线粉末衍射(XRPD)特征峰为主要客观依据,DSC、TGA等热分析数据作为辅助验证手段,不…
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